本试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。参考的测试标准：GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2，IEIA 364， MIL-STD-810F等。

低温试验介绍

本试验是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。

参考的测试标准：GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。

温度冲击试验介绍

本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。

参考的测试标准：IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等

高低温测试是用带加热和制冷功能的可编程高低温箱进行测试。测试前先检查测试样品的状态，外观、功能、性能等是否正常，并拍照；然后，将样品放入高低温箱中，设置温度箱的高温、低温值及各自保持的时间、变温的时间、周期数。比如高温70 °C下保持2小时，然后从70 °C半小时内降到低温-20 °C，保持2小时，再从-20 °C半小时内升温到70 °C。如此循环，测试20个循环。测完后，拿出样品，检查测试后样品的外观、功能、性能等。如发现样品跟测试前相比无明显变化，或者变化在所定的标准范围之类，则表示测试样品的抗高低温循环性能符合要求，否则为不符合。

电子电器产品的高低温测试分为高低温存储测试和高低温运行测试。高低温存储是产品不上电，在非工作状态下进行测试。高低温运行是给产品供电，在产品工作状态下进行测试。